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Phenom台式扫描电子显微镜

发布日期： 2017-04-13

 

放大倍数：120-45,000x； 分辨率：25nm；成像时间：<30s。
该设备采用背散射电子成像技术，背散射电子的产率、出射角度，与样品成份和表面形貌息息相关，因而可以同时给出样品成份和形貌信息。并采用低真空技术，背散射电子成像，可以有效抑制充电效应的产生，可以直接观测各种不导电样品。

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