规格型号:

日本理学 Smart Lab SE

技术指标：

X射线发生器功率：3KW

测角仪为水平测角仪，半径300mm

最小步径0.0001度

CBO交叉光路，提供聚焦光路及平行光路光路

半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)

主要功能与应用领域描述：

X射线衍射仪Smart Lab SE可以广泛应用于多种材料状态分析，可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料等。 其中可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。具体应用如下：

• 粉末样品的物相定性与定量分析

• 计算结晶化度、晶粒尺寸

• 应力与极图分析

• 薄膜样品分